
Chotest SJ5730-200
Kombiniertes Kontur- und Rauheitsmessgerät mit 200 mm Traversierbereich. Misst Oberflächenrauheit und Konturprofile in einem Gerät. Nanometer-Auflösung für anspruchsvollste Oberflächenanalysen in Fertigung und Qualitätssicherung.
Merkmale
- Kontur- und Rauheitsmessung in einem Gerät
- 200 mm Traversierbereich
- Nanometer-Auflösung
- Automatische Traversierung
- Umfangreiche Normauswertung (Ra, Rz, Rq, etc.)
- USB-Datenexport


