| Hersteller | Chotest |
|---|
| Modell Nr. | SJ5760-PR | ||
|---|---|---|---|
| Verfahrbereich | X | 0~200mm | |
| Z | 0~450mm | ||
| Größe (L×B×H) | 800×450×1100mm | ||
| Gewicht | 220Kg | ||
| Profilmessung (SJ5760-P) | |||
| Messbereich | Z1 | ±25mm | |
| Auflösung | 0.001um | ||
| Anzeigefehler | X | ±(0.6+0.015L)μm(L, mm) | |
| Z1 | ±(0.6+0.05H)μm(H, mm) | ||
| Standardkugel | ≤(1+R/15)μm(R, mm) | ||
| Winkelfehler | ≤±1′ | ||
| Bewegungsgeschwindigkeit | X | 0~20mm/s | |
| Z | 0~20mm/s | ||
| Abtastgeschwindigkeit | 0.05~5mm/s | ||
| Maximale Neigung | Bergauf 77°, bergab 88° | ||
| Geradheit | ≤1μm/200mm | ||
| Abtastkraft | 10~150mN einstellbar | ||
| Rauheitsmessung (SJ5760-R) | |||
| Messbereich | Z0 | ±400μm (Optional: ±1000μm) | |
| Sensortyp | Schienenlos | ||
| Ra-Bereich | Ra0.1μm~Ra64μm | ||
| Abtastkraft | 1mN | ||
| Auflösung | 0.001um | ||
| Anzeigefehler | ≤±(5nm+2.5%A)μm, A(Ra)μm | ||
| Wiederholbarkeit | ≤1nm | ||
| Abtastgeschwindigkeit | 0.05~0.5mm/s | ||
| Messabweichung | ≤0.005μm | ||
| Rauheitsparameter | R Rauheit: Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, RPc, Rdq, Rdc, Rmr, Rmax, Rpm, tp, Htp, Pc, Rda, Ry, Sm, S, Rpc, RzJ; Schlüsselrauheit: Rk, Rpk, Rvk, Rpkx, Rvkx, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo; Profil: Pa, Pq, Pt, Pz, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Pc, PPc, Pmr, Rad, PzJ, Pmax; Welligkeit des Profils: Wa, Wq, Wt, Wz, Wp, Wv, WSm, Wsk, Wku, Wdq, Wdc, Wmr, Wpc, Wc; Motiv: R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte; | ||
| Filter | 2RC-Filterung, Gauß-Filterung und Nullphasen-Filterung | ||
| Abtastlänge | 0.008, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8.0 oder 25mm auswählbar | ||
| Auswertungslänge | Automatische Berechnung | ||
| Schichtdickenmessung | Messbereich | 60μm oder weniger | |
| Messgenauigkeit | 2% H (H ist die Messhöhe in μm) | ||
