Chotest SJ5720-OPT Serie - Kontur- und Rauheitsmessgerät

Chotest SJ5720-OPT Serie - Kontur- und Rauheitsmessgerät

Zusätzliche Informationen

Hersteller

Chotest

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• Inbetriebnahme und Vor-Ort Schulung

• PC- und Monitor

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Technische Daten

Modell Nr.SJ5720-OPT100
Profilmessung
Messbereich
X0~100mm
Z0~300mm
Z1±6mm (Optional: ±12mm)
Auflösung0.001μm
Genauigkeit
Z1*¹±(0.5+0.03H) μm (H, mm)
Pt*²Pt≤0.2μm
Standardkugel*³±(1+R/20) μm (R, mm)
Winkel*⁴±1’
Bewegungsgeschwindigkeit
X0~20mm/s
Z0~20mm/s
Scan-Geschwindigkeit0.05~5mm/s
X-Geradheit*⁵≤0.15μm/100mm
Messkraft0.5mN, 0.75mN, 1mN, 2mN, 3mN (Einstellbar)
Rauheitsmessung
Ra-MessbereichRa0.012μm~Ra12.5μm
Genauigkeit*⁶Ra0.012μm ~ Ra3.2 μm: ±(3nm+2.0%A), A(Ra)μm
Ra3.201μm ~ Ra12.5μm: ±(3nm+3.5%A), A(Ra)μm
Wiederholbarkeit (1δ)*⁷1δ≤1nm
Messrest*⁸Rq≤3nm
RauheitsparameterR Rauheit: Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, RPc, Rdq, Rdc, Rmr, Rmax, Rpm, tp, Htp, Pc, Rda, Ry, Sm, S, Rpc, RzJ;

Schlüsselrauheit: Rk, Rpk, Rvk, Rpkv, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo;

Profil: Pa, Pq, Pt, Pz, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Pdc, Pc, PPc, Pmr, Pdq, PzJ, Pmax;

Welligkeit des Profils: Wa, Wq, Wt, Wz, Wp, Wv, WSm, Wsk, Wku, Wdq, Wdc, Wmr, Wpc, Wc;

Motiv: R, AR, W, AW, Rv, Wx, Wte;

Standards: GB/T 3505-2009, ISO 4287:1997, ISO13565-2:1996, ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010, JIS B 0601:2013, JIS B 0601-1994, JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002

Asphärische MessparameterMikro-Profilparameter: Pt, Pa, Pq, Fign

Horizontale Achsenwinkelparameter: Smx, Smn;

Distanzparameter zwischen der optischen Achse und dem Kontur: Xp, Xv, Xt;

Wurzel-Mittelwert-Rauheit-Parameter: RMS;

Neigungsparameter: Steigung mx, Steigung Slope (x), Steigung Slope r;

Vertex-Radius-Fehlerparameter: Radius Err

FilterGaußfilter, 2RC-Filter, Nullphasenfilter
Abtastlänge0.008, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8.0, 25mm wählbar
BewertungslängeAutomatische Berechnung
Größe (L×B×H)600×350×890(mm)
Gewicht195kg

*1 Die Genauigkeit basiert auf der Messung des Standardendmaßes.
*2 Die Genauigkeit basiert auf der Pt-Prüfung der Standardkugel kleiner als Durchmesser 25mm.
*3 Die Genauigkeit basiert auf der Überprüfung der Ф 50mm Standard-Kugel mit dem Bogen überschreitet 90 Grad.
*4 Die Genauigkeit basiert auf der Messung des Winkels des polygonalen Prismas.
*5 Die Genauigkeit basiert auf der Messung der optischen flach.
*6 Die Genauigkeit basiert auf der Messung der Standard-Rauheit Block.
*7 Die Wiederholbarkeit basiert auf der Messung des 0,1-0,2μm Rechteck-Rauheitsblocks und des Standard-Stufenhöhenblocks.
*8 Die Genauigkeit basiert auf der Messung von 1nm Niveau Rauheit Block und optische flach.

Modell Nr.SJ5720-OPT200
Profilmessung
Messbereich
X0~200mm
Z0~500mm
Z1±6mm (Optional: ±12mm)
Auflösung0.001μm
Genauigkeit
Z1*¹±(0.5+0.03H) μm (H, mm)
Pt*²Pt≤0.2μm
Standardkugel*³±(1+R/20) μm (R, mm)
Winkel*⁴≤ ±1’
Bewegungsgeschwindigkeit
X0~20mm/s
Z0~20mm/s
Scan-Geschwindigkeit0.05~5mm/s
X-Geradheit*⁵≤0.15μm/100mm
Messkraft0.5mN, 0.75mN, 1mN, 2mN, 3mN (Einstellbar)
Rauheitsmessung
Ra-MessbereichRa0.012μm~Ra12.5μm
Genauigkeit*⁶Ra0.012μm ~ Ra3.2 μm: ±(3nm+2.0%A), A(Ra)μm
Ra3.201μm ~ Ra12.5μm: ±(3nm+3.5%A), A(Ra)μm
Wiederholbarkeit (1δ)*⁷1δ≤1nm
Messrest*⁸Rq≤3nm
RauheitsparameterR Rauheit: Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, RPc, Rdq, Rdc, Rmr, Rmax, Rpm, tp, Htp, Pc, Rda, Ry, Sm, S, Rpc, RzJ;

Schlüsselrauheit: Rk, Rpk, Rvk, Rpkv, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo;

Profil: Pa, Pq, Pt, Pz, Pp, Pv, PSm, Psk, Pku, Pdq, Pdc, Pc, PPc, Pmr, Pdq, PzJ, Pmax;

Welligkeit des Profils: Wa, Wq, Wt, Wz, Wp, Wv, WSm, Wsk, Wku, Wdq, Wdc, Wmr, Wpc, Wc;

Motiv: R, AR, W, AW, Rv, Wx, Wte;

Standards: GB/T 3505-2009, ISO 4287:1997, ISO13565-2:1996, ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010, JIS B 0601:2013, JIS B 0601-1994, JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002

Asphärische MessparameterMikro-Profilparameter: Pt, Pa, Pq, Fign

Horizontale Achsenwinkelparameter: Smx, Smn;

Distanzparameter zwischen der optischen Achse und dem Kontur: Xp, Xv, Xt;

Wurzel-Mittelwert-Rauheit-Parameter: RMS;

Neigungsparameter: Steigung mx, Steigung Slope (x), Steigung Slope r;

Vertex-Radius-Fehlerparameter: Radius Err

FilterGaußfilter, 2RC-Filter, Nullphasenfilter
Abtastlänge0.008, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8.0, 25mm wählbar
BewertungslängeAutomatische Berechnung
Größe (L×B×H)800×500×1080(mm)
Gewicht265kg

*1 Die Genauigkeit basiert auf der Messung des Standardendmaßes.
*2 Die Genauigkeit basiert auf der Pt-Prüfung der Standardkugel kleiner als Durchmesser 25mm.
*3 Die Genauigkeit basiert auf der Überprüfung der Ф 50mm Standard-Kugel mit dem Bogen überschreitet 90 Grad.
*4 Die Genauigkeit basiert auf der Messung des Winkels des polygonalen Prismas.
*5 Die Genauigkeit basiert auf der Messung der optischen flach.
*6 Die Genauigkeit basiert auf der Messung der Standard-Rauheit Block.
*7 Die Wiederholbarkeit basiert auf der Messung des 0,1-0,2μm Rechteck-Rauheitsblocks und des Standard-Stufenhöhenblocks.
*8 Die Genauigkeit basiert auf der Messung von 1nm Niveau Rauheit Block und optische flach.

Beschreibung

Die SJ5720-OPT-Serie ist in der Lage, sowohl die Oberflächenrauheit als auch das Profil nach einmaligem Scannen zu messen. Darüber hinaus gibt es ein spezielles Softwaremodul für die Messung und Analyse von großen asphärischen Oberflächen, so dass diese Serie eine ideale Messlösung für die optische Linsenindustrie ist.
Sie kann auch für die Profil- und Rauheitsmessung großer gekrümmter Oberflächen verwendet werden, wie z. B. bei Lagern, künstlichen Gelenken, Präzisionsformen, Zahnrädern, Schaufeln, usw. Folglich ist es weit verbreitet in der Präzisionsbearbeitung, Automobil-, Lager-, Werkzeugmaschinen-, Formen-, Präzisions-Hardware und anderen Industrien.

Merkmale

1. Auswertung von Profil- und Rauheitsparametern zur gleichen Zeit nach einmaligem Scannen
2. Hohe Präzision, hohe Stabilität und hohe Wiederholbarkeit
3. Asphärisches optisches Softwaremodul
4. Intelligentes Management und fortschrittliches Software-Analyse-System
5. Intelligentes Schutzsystem während des Scannens 6. Flexible manuelle Steuerung
7. Hohe Stabilität Schwingungsisolierung System

Anwendungsbereiche

Group 240

Software

  • Die professionelle Software zur Messung der asphärischen Oberfläche kann alle Parameter der asphärischen Oberfläche analysieren.
  • Die Software verfügt über einige Selbstprüfungsparameter, sodass die Richtigkeit der eingegebenen Formel durch Selbstprüfung ermittelt werden kann.

Chotest SJ5720-OPT Software

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